在刚结束的美国无损检测学会上，奕瑞科技连续发布多款新品，再次证明其在无损检测领域不断深耕的决心，并以技术和创新性展现全面开拓市场的实力。
潜力无限，TDI应用新纪元
——US-DTDI 数字延迟积分探测器
DTDI(digital Time delay integration)数字延迟积分探测器，是一种增强型的一维线列探测器，配合物体的运动可以实现二维成像。相比于传统的单元探测器，其累计积分时间可随TDI级数N成正比，样品在匀速移动时，其X射线投影依次被第1，2，3,…等各列像素采集，TDI探测器会将这些信号累积起来，从而将最终的信噪比提升N1/2。其动态范围更宽，响应度高，在高速状态和光线较暗的场所，皆能输出高质量图像。
在消费电子产品、电池领域，TDI探测器应用前景更广，由于X射线源是点光源而非平行光，在远离射线源-探测器中心的较大角度上，因为叠片/刀片电池的长短极片的投影会被遮挡，面阵探测器只可观察到两侧极片间的包裹会重叠，而TDI级数N对应的视野很小，可随着物体移动每次只看中心线附件的小视场，再拼接成大视场，对单体电芯和夹紧成组电芯都能进行都能实现全方位精准检测，确保电芯在后续使用过程中的性能与安全。
奕瑞科技在美国无损检测学会上发布的US-DTDI(Ultra-speed DTDI)，每个像素都嵌入了独立的智能处理程序, 能实现独立/同时读出，30kHz的线扫描频率，0.1mm的像素分辨率，对应皮带速度可达3m/s，即便目标对象处于高速或信号微弱的环境下，也能采集高信噪比的优质图像，快速、可靠地识别缺陷品，为精准检测提供有力支撑。
同时多级级联的连接方式，满足从230，450，600，900mm的检测高度，适用于不同环境下的目标物的检测，使用场景更加灵活，对于罐装、袋装、瓶装、盒装等食品异物检测都能适用。
纤毫毕现, 超越想象
——高端CMOS新品 NDT 0002P/NDT 0506P
奕瑞科技还同期发布了多款CMOS技术新品，在工业高端平板探测器技术上实现又一突破。
NDT 0002P采用CMOS传感器技术和碘化铯工艺，配置20μm像素尺寸，同时兼具高灵敏度高、信噪比高等优点，并且搭载了高速USB接口，结构简单，无需额外的控制箱即可连接到电脑，使用奕瑞专用的应用程序，即可轻松获取，增强，分析，查看和共享高质量检测图像，可应用于大多数产品零部件射线检测中。
NDT 0506P 可应对更高的图像空间分辨率需求。在320kV工作条件下，提供50μm的像素尺寸和116mm×143mm的成像区域，在焊接检测和安防X射线数字成像检测中，展现了高超的图像分辨能力及更优秀的细节表现力。
精益求精，高标准看得见
——微焦点射线源Libra 13/15 NE/WE
奕瑞科技借助X射线技术经验，布局并深耕电真领域，逐一攻克微小焦点X射线聚焦技术，单端高压技术，高效阴极发射技术等核心技术，并依托高标准的密封及高压制造工艺，开发出多款工作电压分别为130kV、150kV紧凑型微焦点射线源。该系列产品光斑尺寸最小可达5μm，即使在高放大倍率下，也能轻松获取高分辨率图像。118°超宽X射线辐射角和较小FOD，将系统结构设计达到最优化，稳定的X射线输出性能，可满足摄像模块、QFD(四平面封装)、电池检测、SMT芯片BGA、LE、PCB及电子器件不同场景的应用需求。可支持在线检测和离线检测。
奕瑞科技不断加速技术创新，将先进的X射线影像技术应用于电子元件、电池、食品、安全、工业品等各种无损检测领域，凭借着在数字化X射线系统领域的专业技术积累，服务于亚洲、欧洲和北美等80多个国家地区的客户，针对不同的应用场景，通过提供多种探测器尺寸、空间分辨率、成像速率、传感器技术和闪烁类型方案，实现工业无损检测各类定制化服务。
