在数字信息飞速发展的今天，固态硬盘作为电脑的核心部件、数据存储的核心设备，其可靠性已成为衡量产品质量的重要标准。一款质量过硬的硬盘，能够经受各种复杂环境的考验：无论是在平原广袤之地，还是在高原的崎岖之巅，抑或是在环境最为极端的太空空间站，都能保证正常的运行、稳定的性能表现。

然而，在一般情况下我们的产品却很难有机会触及到以上的每一种场景。近日，忆联针对消费级SSD AM541开展大气中子试验，该测试通过加载极端大气中子辐射环境，以测试AM541的可靠性。

为什么用中子试验 验证 固态硬盘可靠性？

中子，在自然界中无处不在，尤其在高原地区，中子通量随着海拔的升高而急剧增加。中子对固态硬盘具有潜在威胁，它能与半导体微电子相互作用会引发单粒子效应(SEE)，导致器件功能异常、数据丢失甚至损毁。尤其是在高海拔等中子密度高的地区，这种威胁更为严峻，一旦引发故障，不仅会影响我们正常的工作和生活，也极有可能造成不可估量的经济损失。

为应对这一挑战，忆联以AM541为样本，在中国散裂中子源大气中子辐照谱仪开展了系列测试，通过监测其在极端中子辐射环境下的正常工作时间，以验证其在极端场景中的高可靠性，真正让用户使用无忧。

中子试验 ： 百万倍大气中子注量 率 ，A M541 通过 严苛 “考验”

试验选取忆联AM541及国内友商的同类产品A，以相同样本量、相同的试验环境进行测试：所有盘片均以2.67×10(5)n/cm(2)·s的中子注量率进行辐照，直至盘片失效或测试时长超过20分钟，试验过程中通过自动化试验脚本记录硬盘正常运行时间。

中子辐照现场图

据中子试验相关专家介绍，此次试验采用的中子注量率远超自然环境的中子强度，即使相对于海拔较高的阿里、西藏等高原地区，本次试验的中子密度也超过百万倍，通过监测硬盘在试验环境下的工作时间，可推算出样品在各种复杂环境中的平均故障时间及可靠性。

经过多组试验显示，在2.67×10(5)n/cm(2)·s中子注量率辐照下, AM541的平均运行时间可达12.5分钟，远远高于友商产品A的9.2分钟，这表明在相同环境下，AM541具有更高的可靠性。