中国核技术网讯：新型Vanta Element-S手持式X射线荧光(XRF)分析仪以可承受的价格提供了快速的轻元素检测功能，并加入了一系列具有成本效益的入门级Vanta Element XRF仪器。S模型配备了硅漂移检测器(SDD)，可分析合金中的轻元素，例如镁(Mg)，铝(Al)，硅(Si)，硫(S)和磷(P)。

Vanta Element-S是废料回收，基本PMI，金属制造和贵金属的理想选择，可以有效地测量黑色金属，铝，铜，不锈钢，镍和金克拉。该分析仪可在几秒钟内提供清晰的屏幕等级ID并比较轻元素Mg，Al和Si。它的SDD检测器可以区分类似的合金等级，例如303不锈钢和304，铝6061或6063和1100。

为了延长正常运行时间和可靠性，分析仪的IP54防护等级可抵抗灰尘和湿气，并通过1.2 m(4英尺)跌落测试(MIL-STD-810G)，可防止偶尔跌落或撞击。其他保护功能包括不锈钢面板和带有Kapton®网格支撑的Prolene®窗户，可轻松粘贴和剥离，以免现场更换工具。分析仪可在–10°C至45°C(14°F至113°F)的温度范围内连续运行。

Vanta Element-S分析仪具有Vanta™系列众所周知的基本功能：速度，可靠性，坚固性，连接性和类似于智能手机的易用性。该分析仪的重量仅为2.9磅(1.32千克)，非常轻巧，可应对合金和金属分析全天候测试的挑战。在奥林巴斯久经考验的Axon Technology™的支持下，S模型具有与Vanta系列其他产品相同的高计数率和稳定性，可实现快速的结果和ROI。

可选的无线连接功能可帮助您的工业4.0分析仪永不过时。连接到Olympus Scientific Cloud™进行无线数据共享，并访问便捷的车队管理工具以及Olympus移动应用程序或您的网络。分析仪还具有一个用于存储结果的1 GB microSD™卡和两个用于轻松导出数据的USB端口。为了增加灵活性，该分析仪与万塔(Vanta)现场支架，土壤支脚，探头护罩和皮套等附件兼容。