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X射线扫描相干衍射成像技术新闻
ACS Nano:软X射线扫描相干衍射成像技术揭示了高镍富锂正极颗粒的降解机理
作者提出了一种空间分辨率约为5 6 nm的化学方法来成像降解富锂阴极中的降解异质性和组分之间的相互作用。通过对降解富锂阴极材料的化学成像重建,证实了充放电过程中氟离子进入晶格与锰(Mn)的溶解和二次粒子中氧的损失密切相关,并影响其电子结构。
2021-01-05
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